NFS

Серия NFS датчиков давления Honeywell, выпускаемая на заводе в Плимуте (Миннесота, США), предназначена для измерения давления в диапазоне от 0 до 10 бар. Кремниевый чип, основа NFS, изготавливается методом микромеханической обработки с применением травления в плазме, что позволяет добиться стабильности параметров в течение всего срока службы. Каждый датчик проходит индивидуальную калибровку в диапазоне температур от -20°C до +85°C, а погрешность не превышает ±0.25% полной шкалы. Корпус NFS, отлитый из полиэфиримида (PEI) Ultem 1000, обеспечивает устойчивость к воздействию агрессивных сред и соответствует стандарту IP67. Подключение осуществляется через стандартный разъём M12x1, рассчитанный на напряжение питания от 10 до 30 В постоянного тока. Типичный потребляемый ток составляет 25 мА, а время отклика – менее 1 мс, что позволяет использовать датчики в системах управления с высокой динамикой. Перед отправкой потребителю, каждый датчик серии NFS проходит проверку на герметичность гелиевым течеискателем с чувствительностью 10^-8 мбар*л/с. Это гарантирует отсутствие утечек и стабильную работу в течение всего срока эксплуатации, который составляет не менее 5 лет при соблюдении условий эксплуатации. Данные измерений передаются по аналоговому выходу 4-20 мА или цифровому протоколу IO-Link. На заводе в Дофине (Пенсильвания, США) производится сборка и тестирование конечных изделий серии NFS. Здесь датчики давления интегрируются с электронной схемой, содержащей микроконтроллер и аналого-цифровой преобразователь с разрядностью 16 бит. Цифровая обработка сигнала позволяет реализовать функции линеаризации и температурной компенсации, что повышает точность измерений в реальных условиях эксплуатации. В рамках программы непрерывного улучшения качества, на заводе в Плимуте внедрена система статистического контроля процессов (SPC), позволяющая отслеживать и корректировать параметры технологических процессов в режиме реального времени. Это позволяет минимизировать разброс параметров и гарантировать соответствие продукции заявленным характеристикам. Контроль осуществляется по 27 ключевым параметрам, включая геометрические размеры чипа и характеристики чувствительного элемента.