USB

Серия USB от Samtec предлагает широкий выбор разъемов для различных применений. На заводе в Нью-Олбани, штат Индиана, изготавливаются коннекторы типа A, B и Mini-B, обеспечивающие скорость передачи данных до 480 Мбит/с в соответствии со стандартом USB 2.0. Корпуса разъемов выполнены из термопластика, выдерживающего температуру до +105°C. Контактные площадки покрыты золотом толщиной 0.76 мкм для повышения коррозионной стойкости и снижения переходного сопротивления. Разъемы USB Type-C производятся на мощностях Samtec в Сингапуре. Они поддерживают передачу данных со скоростью до 10 Гбит/с (USB 3.1 Gen 2) и обеспечивают мощность до 100 Вт при напряжении 20 В. Компактные размеры (8.4 мм x 2.4 мм) позволяют использовать их в малогабаритных устройствах. Процесс пайки выводов осуществляется методом оплавления припоя при температуре 260°C в течение 10 секунд, что обеспечивает надежное соединение с платой. Для жестких условий эксплуатации предлагаются усиленные версии разъемов USB, изготовленные на заводе в Вилсонвилле, штат Орегон. Они выдерживают вибрацию до 20g и удары до 100g. Корпус выполнен из цинкового сплава, обеспечивающего экранирование от электромагнитных помех. Минимальный ресурс составляет 5000 циклов сопряжения/рассоединения, что подтверждено испытаниями по стандарту MIL-STD-202. Серия включает в себя как вертикальные, так и горизонтальные разъемы для поверхностного монтажа (SMT) и сквозного монтажа (THT). Шаг выводов составляет 2.54 мм. Процесс автоматической установки компонентов на плату осуществляется с использованием вакуумных пинцетов, обеспечивающих точность позиционирования до 0.05 мм. Контроль качества пайки осуществляется методом автоматической оптической инспекции (AOI). Все разъемы Samtec USB проходят 100% электрическое тестирование на соответствие требованиям стандарта USB. Измерение сопротивления изоляции проводится при напряжении 500 В постоянного тока. Диапазон рабочих температур составляет от -40°C до +85°C. Каждый разъем маркируется уникальным серийным номером для отслеживания партии и результатов тестирования.